پرونده:Kelvin probe force microscopy.svg
حجم پیشنمایش PNG این SVG file:۸۰۰ × ۴۳۷ پیکسل کیفیتهای دیگر: ۳۲۰ × ۱۷۵ پیکسل | ۶۴۰ × ۳۵۰ پیکسل | ۱٬۰۲۴ × ۵۶۰ پیکسل | ۱٬۲۸۰ × ۷۰۰ پیکسل | ۲٬۵۶۰ × ۱٬۳۹۹ پیکسل | ۸۶۰ × ۴۷۰ پیکسل.
پروندهٔ اصلی (پروندهٔ اس‌وی‌جی، با ابعاد ۸۶۰ × ۴۷۰ پیکسل، اندازهٔ پرونده: ۸۳ کیلوبایت)
 | این پرونده در ویکی‌انبار موجود است. محتویات صفحهٔ توصیف آن در زیر نمایش داده می‌شود. |
خلاصه
| توضیح | In Kelvin probe force microscopy, a conducting cantilever is scanned over a surface at a constant height while an AC+DC potential is applied. The AC signal is a sinusoid whose frequency matches the mechanical resonance of the cantilever. The cantilever is driven into oscillation by electrostatic forces where the DC potential difference between the surface and the cantilever is non-zero. Using a four-quadrant detector and an A/D to detect cantilever motion, the feedback circuit drives the DC signal to the surface potential, minimizing cantilever motion and resulting in a map of the work function of the surface. |
| تاریخ | March 1, 2008 (UTC+0100) |
| منبع | اثر شخصی |
| پدیدآور | Inkwina (بحث · مشارکت‌ها) |
| دیگر نسخه‌ها |
آثار انشقاقی از این پرونده: Kelvin probe force microscopy DE.svg Image:Kpfm.png |
Credit
Based on Image:Kpfm.png drawn by Alison Chaiken using the xfig program. Originally uploaded as w:Kpfm.png.
اجازه‌نامه
من، صاحب حقوق قانونی این اثر، به این وسیله این اثر را تحث اجازه‌نامه‌های ذیل منتشر می‌کنم:
|
اجازهٔ کپی، پخش و/یا تغییر این سند تحت شرایط مجوز مستندات آزاد گنو، نسخهٔ ۱٫۲ یا هر نسخهٔ بعدتری که توسط بنیاد نرم‌افزار آزاد منتشر شده؛ بدون بخش‌های ناوردا (نامتغیر)، متون روی جلد، و متون پشت جلد، اعطا می‌شود. یک کپی از مجوز در بخشی تحت عنوان مجوز مستندات آزاد گنو ضمیمه شده است. |
This file is licensed under the Creative Commons Attribution-Share Alike Attribution-Share Alike 4.0 International, 3.0 Unported, 2.5 Generic, 2.0 Generic and 1.0 Generic license.
- شما اجازه دارید:
- برای به اشتراک گذاشتن – برای کپی، توزیع و انتقال اثر
- تلفیق کردن – برای انطباق اثر
- تحت شرایط زیر:
- انتساب – شما باید اعتبار مربوطه را به دست آورید، پیوندی به مجوز ارائه دهید و نشان دهید که آیا تغییرات ایجاد شده‌اند یا خیر. شما ممکن است این کار را به هر روش منطقی انجام دهید، اما نه به هر شیوه‌ای که پیشنهاد می‌کند که مجوزدهنده از شما یا استفاده‌تان حمایت کند.
- انتشار مشابه – اگر این اثر را تلفیق یا تبدیل می‌کنید، یا بر پایه آن اثری دیگر خلق می‌کنید، می‌‌بایست مشارکت‌های خود را تحت مجوز یکسان یا مشابه با ا اصل آن توزیع کنید.
می‌توانید مجوز دلخواه خود را برگزینید.
تاریخچهٔ پرونده
روی تاریخ/زمان‌ها کلیک کنید تا نسخهٔ مربوط به آن هنگام را ببینید.
| تاریخ/زمان | بندانگشتی | ابعاد | کاربر | توضیح | |
|---|---|---|---|---|---|
| کنونی | ۱ مارس ۲۰۰۸، ساعت ۱۶:۵۳ | | ۸۶۰ در ۴۷۰ (۸۳ کیلوبایت) | Inkwina | Fixed SVG |
| ۱ مارس ۲۰۰۸، ساعت ۱۶:۲۱ |  | ۸۶۰ در ۴۷۰ (۸۴ کیلوبایت) | Inkwina | {{Information |Description=In Kelvin probe force microscopy, a conducting cantilever is scanned over a surface at a constant height while an AC+DC potential is applied. The AC signal is a sinu |
کاربرد پرونده
صفحهٔ زیر از این تصویر استفاده می‌کند:
کاربرد سراسری پرونده
ویکی‌های دیگر زیر از این پرونده استفاده می‌کنند:
- کاربرد در en.wikipedia.org
- کاربرد در ja.wikipedia.org
- کاربرد در zh.wikipedia.org
