تحلیل عیوب و ریزساختار به کمک پراش: تفاوت میان نسخهها
محتوای حذفشده محتوای افزودهشده
بدون خلاصۀ ویرایش |
بدون خلاصۀ ویرایش |
||
خط ۲۵:
* Snyder, R.L., Fiala, J., Bunge, H.J., ''Defect and Microstructure Analysis by Diffraction'', OXFORD Science publishing - 1999.
{{پایان چپچین}}
==جستارهای وابسته==
* [[بلورشناسی]]
|