تحلیل عیوب و ریزساختار به کمک پراش: تفاوت میان نسخه‌ها

محتوای حذف‌شده محتوای افزوده‌شده
بدون خلاصۀ ویرایش
 
بدون خلاصۀ ویرایش
خط ۲۵:
* Snyder, R.L., Fiala, J., Bunge, H.J., ''Defect and Microstructure Analysis by Diffraction'', OXFORD Science publishing - 1999.
{{پایان چپ‌چین}}
 
 
==جستارهای وابسته==
* [[بلورشناسی]]