تحلیل عیوب و ریزساختار به کمک پراش: تفاوت میان نسخهها
محتوای حذفشده محتوای افزودهشده
بدون خلاصۀ ویرایش |
|||
خط ۲۴:
{{چپچین}}
* Snyder, R.L., Fiala, J., Bunge, H.J., ''Defect and Microstructure Analysis by Diffraction'', OXFORD Science publishing - 1999.
{{پایان چپچین}}▼
* Billinge,S.J.L., Thorpe, M.F., ''Local Structure from Diffraction'', Kluwer Academic Publishers, 2002.
▲{{پایان چپچین}}
==جستارهای وابسته==
| |||