جامد آمورف: تفاوت میان نسخه‌ها

حتی مواد آمورف دارای مقداری نظم کوتاه برد در طول اتمی بخاطر طبیعت پیوند شیمیایی می‌باشند. بنابراین، در بسیار از [[بلور|کریستال]] ها، مقدار زیادی از اتم ها، کریستال اند؛ سستی سطح و تأثیرات فضایی مکان اتم‌ها را تغییر می دهد، و در واقع نظم اتم‌ها را تحریف می‌کند، که با این کار، نظم ساختاری به هم می‌ریزد. حتی پیچیده‌ترین تکنیک‌های مرتب سازیمرتب‌سازی ساختاری، همچون انکسار اشعه x و میکروسکوپ انتقال الکترونی، در تمایز میان آمورف‌ها و ساختارهای کریستالی در این بازه طولی مشکل دارند.

فاز‌هایفازهای آمورفی، اجزاء مهم فیلم‌های نازک هستند، که لایه‌های جامد یکدست از چند نانو متر تا چند میکرو متر، در یک لایه قطر دارند. مدل هاییمدل‌هایی که به آن‌ها مدل‌های ساختار منطقه می گویند، ساخته شده اند تا میکرو ساختار و سرامیک‌های فیلم‌های نازک را به عنوان تابع ای از دمای همگن ''T_h'' که ضریب میزان کاهش دما در طول دمای دمای ذوب است را توضیح دهد. با توجه به این مدل ها، شرایط لازم ( نه کافی ) برای بوجود آمدن فاز‌هایفازهای آمورف این است که ''T_h''باید از 0.3 کمتر باشد، در واقع، میزان کاهش دما باید کمتر از 30% از دمای ذوب باشد. برای مقادیر بیشتر، انتشار سطحی گونه‌های موجود اتمی ممکن است اجازه تشکیل کریستال هاییکریستال‌هایی با نظم اتمی بلند دامنه را بدهند.

با توجه به استفاده آنها، لایه‌های فلزی آمورفی نقش مهمی در بحث از یک ابر رسانایی در آهن‌های آمورف اجرا کرده‌اند. امروزه، پوشش اپتیکال ساخته شده از  TiO₂, SiO₂, Ta₂O₅ و ... و ترکیب هاییترکیب‌هایی از آن‌ها در بیشتر موارد از فاز‌هایفازهای آمورفی از این ترکیبات تشکیل شده‌است. تحقیقات زیادی بر روی فیلم‌های نازک آمورفی به عنوان یک لایه جدا شونده گازی اجرا شده‌است. از نظر تکنولوژی، مهم‌ترین فیلم نازک آمورفی، احتمالاً توسط لایه‌های نازک SiO₂ به قطر چند نانو متر که به عنوان جداساز بر روی کانال هدایت از یک اکسید فلز نیمه هادی ترانزیستور میدان اثر (MOSFET) عمل می‌کنند، معرفی می‌شوند. همچنین سیلیکون آمورفی هیدروژنه، برای فیلم نازک سلول‌های خورشیدی از اهمیت فنی برخوردار است. در مورد یک Si:H نظم بلند دامنه مفقود بین اتم‌های سیلیکون توسط حضور هیدروژن در بازه درصدی به صورت جزئی القا شده‌است.

تشکیل فاز‌هایفازهای آمورفی به عنوان یک پدیده علاقه خاص برای تحقیق رشد فیلم نازک مشخص شد. نکته قابل توجه این است که رشد فیلم‌های پلی کریستالی معمولاً توسط یک لایه آمورفی اولیه ایجاد و استفاده می‌شود. قطر آن تنها می‌تواند چند نانو متر باشد. مثالی که بیشتر مورد بررسی قرار گرفته توسط فیلم‌های نازک سیلیکونی چند کریستاله همچون مولکول‌های بی‌نظیر بیان شده‌است . یک لایه آمورفی اولیه در بسیاری از تحقیقات دیده شده‌است. پلی کریستال‌های گوه مانند، توسط میکروسکوپ‌های انتقال الکترونی تشخیص داده شده اند تا تنها بعد از اینکه قسمت دوم از یک قطر مشخص تجاوز کرد فاز آمورفی رشد می‌کند. میزان دقیق آن به درجه حرارت رسوب،فشار پس زمینه و پارامتر‌هایپارامترهای پروسه دیگر بستگی دارد. این پدیده در قالب قانون استوالد از سطح‌ها تفسیر شده‌است که تشکیل فازها با افزایش زمان تراکم به سمت افزایش ثبات را پیش‌بینی می‌کند. تحقیقات آزمایشگاهی از این پدیده نیازمند یک حالت به وضوح تعریف شده از سطح و از چگالی آلودگی و ... می‌باشد که در آن فیلم نازک ته نشین شده باشد.

در جامدات کریستالی اتم‌ها به صورت مرتب و با نظم مشخصی در کنار یکدیگر قرار گرفته اند – نیرویی که اجزای یک ماده را در کنار هم نگه می دارد همان نیروی یکنواخت بین مولکولی و اتمی است – در حالی که اجزای جامدات بی شکل ( یا آمورف) به صورت آرایه‌های منظم در کنار هم مرتب نشده اند و نظم خاصی ندارند. شکل سه بعدی زیر دید زیبایی از چینش‌های منظم و نامنظم را به صورت سه بعدی به ما می دهدمی‌دهد.