بلورنگاری پرتوی ایکس: تفاوت میان نسخه‌ها

محتوای حذف‌شده محتوای افزوده‌شده
بدون خلاصۀ ویرایش
برچسب‌ها: ویرایش همراه ویرایش از وبگاه همراه
بدون خلاصۀ ویرایش
برچسب‌ها: ویرایش همراه ویرایش از وبگاه همراه
خط ۱:
[[پرونده:X-Ray_Diffractometer.JPG|بندانگشتی|چپ|یک نمونه دستگاه تفرق‌سنج اشعه ایکس]]
 
[[پراش]] (تفرق) [[اشعه ایکس]] روشیروش7ی برای مطالعهٔ [[ساختار مواد]] [[بلور]]ی است که در سال ۱۹۱۲ میلادی توسط [[فون لاوه]] کشف شد و توسط [[ویلیام هنری براگ]] و [[ویلیام لورنس براگ]] برای بررسی بلورها بکار گرفته شد.پراش پرتو X یا XRD به منظور آنالیز فازی و بررسی اندازه دانه ها و ذرات نانو مواد استفاده می شود.این کار از طریق پردازش و آنالیز پرتو-X بازگشتی از سطح نمونه امکان پذیر است.روشی است که روزالیند فرانکلین از آن برای تصویر برداری ازdnaاستفاده کرد .
 
اشعه‌های ایکسی که برای پراش استفاده می‌شوند، معمولاً طول موجی در حدود ۰٫۵ الی ۲٫۵ [[آنگستروم]] دارند.