طیف‌سنجی فلورسانس پرتو ایکس
یک تکنیک آنالیز عناصر شیمیایی
طیف‌سنجی فلورسانس پرتو ایکس (X-ray Fluorescence Spectroscopy) با نام متداول XRF، یک تکنیک آنالیز عنصری است که کاربرد گسترده‌ای در تحقیقات و صنعت دارد. امکان آنالیز کمی و کیفی عنصری (از سدیم تا اورانیوم) با این روش وجود دارد. به علت سهولت نسبی آماده‌سازی نمونه، هزینهٔ آنالیزی مناسب، پایداری و کاربری آسان، انجام آنالیز کمی و کیفی، این روش یکی از روش‌های اصلی برای آنالیز عناصر اصلی (Major) و جرئی (Trace) نمونه‌های معدنی است.
این پدیده به‌طور گسترده برای تجزیه و تحلیل عناصر و آنالیز شیمیایی به ویژه در بررسی فلزات، شیشه، سرامیک، مصالح ساختمانی و همچنین تحقیق در زمینهٔ ژئوشیمی، علوم پزشکی قانونی، باستان‌شناسی و اشیاء هنری[۱] مانند نقاشی[۲] و نقاشی دیواری استفاده می‌شود.
جستارهای وابسته ویرایش
منابع ویرایش
- ↑ de Viguerie, Laurence; Sole, V. Armando; Walter, Philippe (Fall 2009). "Multilayers quantitative X-ray fluorescence analysis applied to easel paintings". Analytical and Bioanalytical Chemistry. 395 (7): 2015–2020. doi:10.1007/s00216-009-2997-0. ISSN 1618-2650. PMID 19688344.
- ↑ «X-Ray Fluorescence». ColourLex (به انگلیسی). دریافت‌شده در ۲۰۲۳-۱۰-۳۰.
پیوند به بیرون ویرایش
- Spectroscopy در کرلی