تحلیل عیوب و ریزساختار به کمک پراش: تفاوت میان نسخه‌ها
محتوای حذف‌شده محتوای افزوده‌شده
جز نیم‌فاصله |
جز ربات: اصلاح حمزهٔ بعد از "ه" |
||
خط ۱:
[[پراش اشعه ایکس]] اولین بار برای شناسایی [[ساختار مواد]] [[بلور]]ین بکار گرفته شد. اما به زودی مشخص شد که ساختار واقعی مواد بلورین کاملاً پریودیک نیست. پس از آن کشف شد که مواد بلوری طبیعی و مصنوعی از نظم حالت ایده‌آل انحرافات زیادی دارند{{نشانه|ref1}}.
بنابراین
==
اولین مقاله در مورد آنالیز ساختار واقعی [[ماده چگال|مواد چگال]] به کمک پراش اشعه ایکس توسط کیتایی گورودسکی نوشته شده و در سال ۱۹۵۲ چاپ شد{{نشانه|ref2}}. مدت اندکی پس از آن دو کتاب به نام‌های ''تئوری و تکنیک رادیوکریستالوگرافی'' توسط گوینر(۱۹۵۶){{نشانه|ref3}} و ''تحلیل مستقیم پراش ماده'' توسط هوسمان(۱۹۶۲){{نشانه|ref4}} چاپ شدند. بعدها منابع متعدد دیگری در این زمینه به چاپ رسیدند.
خط ۹:
چند روش پراش اشعه ایکس برای تحلیل ساختار واقعی مواد ابداع شده‌اند. از جمله روش پفلاند-موریتز (۱۹۹۲){{نشانه|ref5}} و همچنین روش ولبری-بولتز(۱۹۹۴){{نشانه|ref6}}
تکنیک‌هایی نیز وجود دارند که از عریض شدن خطوط پراش، واریانس پیک‌ها، ضرایب فوریه و... برای شناسایی عیوب خطی، عیوب صفحه‌ای،
==منابع==
خط ۲۱:
{{پایان چپ‌چین}}
==منابعی برای
{{چپ‌چین}}
* Snyder, R.L., Fiala, J., Bunge, H.J., ''Defect and Microstructure Analysis by Diffraction'', OXFORD Science publishing - 1999.
| |||