[[پرونده:EDS - Rimicaris exoculata.png|400px|بندانگشتی|چپ|طیف پراش انرژی پرتو ایکس از پوستهٔ میگوی''Rimicaris exoculata''ا<ref>{{cite journal|doi=10.5194/bg-5-1295-2008|title=Iron oxide deposits associated with the ectosymbiotic bacteria in the hydrothermal vent shrimp Rimicaris exoculata|journal=Biogeosciences|volume=۵|pages=۱۲۹۵–۱۳۱۰|year=۲۰۰۸|url=http://www.ifremer.fr/docelec/doc/2008/publication-4702.pdf|author=Corbari, L ''et al. ''}}</ref>]]
'''[[طیف سنجی]] پراش [[انرژی]] [[پرتو ایکس]]''' (EDS یا EDX) یک روش تحلیلی است که برای تجزیه و تحلیل ساختاریساختاری، یا خصوصیات شیمیایی یک نمونه به کار می‌رود. این روش بربه بررسی بر هم کنشکنش، بین یک منبع برانگیختگی [[پرتو ایکس]] و یک نمونهنمونه، متکی است. قابلیت‌های توصیفی این روش به طور کلی بر اساس این اصل کلی است که هر [[عنصر]] دارای یک ساختار اتمی منحصربه‌فرد است که مجموعهٔ منحصربه‌فردی از قله‌ها (peaks) را در طیف [[پرتو ایکس]] آن ممکن می‌سازد.<ref name="Joseph Goldstein ۲۰۰۳">{{cite book|author=Joseph Goldstein|title=Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis|url=http://books.google.com/books?id=ruF9DQxCDLQC|accessdate=26 May 2012|year=۲۰۰۳|publisher=Springer|isbn=۹۷۸-۰-۳۰۶-۴۷۲۹۲-۳}}</ref>
برای برانگیختن انتشار پرتو ایکسایکسِ مشخصه از یک نمونه، یک دسته پرتوپرتوی پر انرژی از [[ذرات باردار]] مانند الکترون یا پروتون، یا یک دسته [[پرتو ایکس]] به نمونهٔ در حال مطالعه متمرکز می‌شود. یک [[اتم]] در درون نمونهٔ در حالت استراحت، شامل [[الکترون]]<nowiki/>های [[حالت پایه]] (یا برانگیخته نشده) در سطوح گسستهٔ انرژی یا لایه‌های [[الکترون]] متصل به هسته است. [[پرتو]] اعمال شده ممکن است یک الکترون در پوستهٔ درونی را تحریک کند و آن را از پوسته خارج سازد، در حالی که باعث ایجاد یک [[حفره الکترونی]] در مکان پیشین الکترون می‌شود. سپس یک الکترون با انرژی بالاتر از یک لایهٔ بیرونی، حفره را پر می‌کند و تفاوت انرژی بین لایهٔ پر انرژی و لایهٔ کم انرژی می‌تواند به شکل پرتو ایکس آزاد شود. تعداد و انرژی پرتوهای ایکس ساطع شده از یک نمونه را می‌توان به کمک یک [[طیف سنج]] پراش انرژی اندازه‌گیری کرد. از آنجا که انرژی پرتوهای ایکس بیانگر اختلاف انرژی بین دو لایه و همچنین ساختار اتمی عنصری است که از آن ساطع شده‌اند، و امکان اندازه‌گیری ترکیب عناصر نمونه را می‌دهد.<ref name="Joseph Goldstein ۲۰۰۳"/>
== اندازه‌گیری پرتو ایکس ==
تجهیزات این روش، انرژی و تعداد پرتوهای ایکس ساطع شده را می‌سنجد.
