|
[[پراش اشعه ایکس]] اولین بار برای شناسایی
[[پراش اشعه ایکس]] اولین بار برای شناسایی [[ساختار مواد]] [[بلور]]ین بکار گرفته شد. اما به زودی مشخص شد که ساختار واقعی مواد بلورین کاملاً پریودیک نیست. پس از آن کشف شد که مواد بلوری طبیعی و مصنوعی از نظم حالت ایده‌آل انحرافات زیادی دارند{{نشانه|ref1}}.
بنابراین مطالعه‌ی ساختار حقیقی [[جامد]]ات و انحرافات مختلف ار حالت ایده‌آل اهمیت زیادی دارد. مبحث بررسی [[نابجایی|نابجایی{{فم}}ها]] و [[ریزساختار]] به کمک پراش به این موضوع اختصاص دارد.
==تاریخچه‌ی منابع==
اولین مقاله در مورد آنالیز ساختار واقعی [[ماده چگال|مواد چگال]] به کمک پراش اشعه ایکس توسط کیتایی گورودسکی نوشته شده و در سال ۱۹۵۲ چاپ شد{{نشانه|ref2}}. مدت اندکی پس از آن دو کتاب به نام‌های ''تئوری و تکنیک رادیوکریستالوگرافی'' توسط گوینر(۱۹۵۶){{نشانه|ref3}} و ''تحلیل مستقیم پراش ماده'' توسط هوسمان(۱۹۶۲){{نشانه|ref4}} چاپ شدند. بعدها منابع متعدد دیگری در این زمینه به چاپ رسیدند.
==روش‌ها و تکنیک‌ها==
چند روش پراش اشعه ایکس برای تحلیل ساختار واقعی مواد ابداع شده‌اند. از جمله روش پفلاند-موریتز (۱۹۹۲){{نشانه|ref5}} و همچنین روش ولبری-بولتز(۱۹۹۴){{نشانه|ref6}}
تکنیک‌هایی نیز وجود دارند که از عریض شدن خطوط پراش، واریانس پیک‌ها، ضرایب فوریه و... برای شناسایی عیوب خطی، عیوب صفحه‌ای، اندازه‌ی ناحیه‌ی همدوس، پاراکریستالی بودن، کرنش در شبکه و ... استفاده می‌کنند.
==منابع==
{{چپ‌چین}}
*{{پاورقی|ref1}} Von Laue, M., ''R'ntgenstrahlinterferenzen'', 3rd edition. Frankfurt an Main: Akademische Verlagsgesellschaft - 1960.
*{{پاورقی|ref2}} Kitaigorodskii, A.I., ''X-ray stracture analysis of fine-grained and amorphous materials''(به روسی) Moscow-Leningrad: GITT - 1952.
*{{پاورقی|ref3}} Guinier, A., ''Théorie et Technique de la Radiocristallographie'', Paris: Dunod - 1956.
*{{پاورقی|ref4}} Hosemann R., Bagchi, S.N, ''Direct analysis of Differaction by Matter'', Amsterdam: North-Holland Publishing Company - 1962.
*{{پاورقی|ref5}} Pflanz, S., Moritz, W., ''Acata Cryst.'', A48(1992), 716-727.
*{{پاورقی|ref6}} Wellberry, T.R., Bulter, B.L., ''J. Appl. Cryst.'', 27 (1994), 205-231.
{{پایان چپ‌چین}}
==منابعی برای مطالعه‌ی بیشتر==
{{چپ‌چین}}
* Snyder, R.L., Fiala, J., Bunge, H.J., ''Defect and Microstructure Analysis by Diffraction'', OXFORD Science publishing - 1999.
* Billinge,S.J.L., Thorpe, M.F., ''Local Structure from Diffraction'', Kluwer Academic Publishers, 2002.
{{پایان چپ‌چین}}
==جستارهای وابسته==
* [[بلورشناسی]]
[[رده:مهندسی مواد]]
| 