تحلیل عیوب و ریزساختار به کمک پراش: تفاوت میان نسخهها
محتوای حذفشده محتوای افزودهشده
جز ربات: ویرایش جزئی |
جز ویکیسازی رباتیک(۶.۸) >اشعه ایکس+تمیز (۷.۵) |
||
خط ۱:
[[پراش اشعه ایکس]] اولین بار برای شناسایی [[ساختار مواد]] [[بلور|بلورین]]
بنابراین مطالعهٔ ساختار حقیقی [[جامد|جامدات]]
== تاریخچهٔ منابع ==
اولین مقاله در مورد آنالیز ساختار واقعی [[ماده چگال|مواد چگال]] به کمک پراش [[اشعه ایکس]] توسط کیتایی گورودسکی نوشته شده و در سال ۱۹۵۲ چاپ شد{{نشانه|ref2}}. مدت اندکی پس از آن دو کتاب به نامهای ''تئوری و تکنیک رادیوکریستالوگرافی'' توسط گوینر(۱۹۵۶){{نشانه|ref3}} و ''تحلیل مستقیم پراش ماده'' توسط هوسمان(۱۹۶۲){{نشانه|ref4}} چاپ شدند. بعدها منابع متعدد دیگری در این زمینه به چاپ رسیدند.
== روشها و تکنیکها ==
خط ۱۲:
== منابع ==
{{پانویس}}
{{چپچین}}
* {{پاورقی|ref1}} Von Laue, M., ''R'ntgenstrahlinterferenzen'', 3rd edition. Frankfurt an Main: Akademische Verlagsgesellschaft - 1960.
سطر ۲۴ ⟵ ۲۵:
{{چپچین}}
* Snyder, R.L., Fiala, J., Bunge, H.J., ''Defect and Microstructure Analysis by Diffraction'', OXFORD Science publishing - 1999.
* Billinge,S.J.L., Thorpe, M.F., ''Local Structure from Diffraction'', Kluwer Academic Publishers, 2002.
{{پایان چپچین}}
سطر ۳۵ ⟵ ۳۳:
[[رده:مهندسی مواد]]
[[رده:ویکیسازی رباتیک]]
|